Ders Adı:Malzeme Karakterizasyonunda Yeni Yöntemler
Ders Kodu:METL 5051
Ders İçeriği (Türkçe):Kantitatif Metalografi, Görüntü Analizi, Elektron Mikroskobu (Elektron-Yüzey Etkileşimleri ve Ekipmanlar), Elektron Mikroskobu Çeşitleri, Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), Transmisyon Elekron Mikroskobu (TEM), Tarama Tünelli Transmisyon Elektron Mikroskobu (STEM) ve Alan İyon Mikroskobu (FIM), Kimyasal Analiz (Enerji Dispersif Spekrometresi (EDS), Dalga boyu Dispersif Spekrometresi (WDS)), Diğer Analiz Metodları, Atomik Kuvvet Mikroskobu, Auger Elekron Spekroskobu, X-Işını Floresan Analizi (XRF), X-Işını Difraksiyonu (XRD), Termal Analiz Metodları, Soğuma Eğrileri, Dilatometre, DTA, DSC, TGA.
Ders İçeriği (İngilizce):Optical Microscopy Sample Preparation, Polishing Methods, Etching Methods, Construction and Properties of Optical Microscopy, Examination of Importance of Macro and Micro Structures, Quantitative Metallography, Grain Size Measurement Method , Theory and The Use of Scanning Electron Microscopes and Transmission Electron Microscopes, Principles of Analytical Electron Microscopy of SEM and TEM, Generation and Properties of X-Rays, X-Ray Diffraction Technique (XRD), Quantitative and Qualitative Analysis Techniques of X Ray (X-Ray Fluorescence Technique (XRF), Wavelength-Dispersive X-Ray Technique (WDX)
Ders Saati:
Teorik Ders : 3 Uygulama : 0 Laboratuar : 0
Ders Kredisi : 3