| Ders Adı | : | Yüzey Analiz Teknikleri | ||||||
| Ders Kodu | : | METL 5180 | ||||||
| Ders İçeriği (Türkçe) | : | Yüzey analizleri tanımı. Yüzey biliminde vakum teknolojisi. Auger elektron spektroskopisi tanımı ve temelleri. İkincil iyon kütle spektroskopisi (SIMS)- yüzey kütle spektroskopisi X-ışını absorpsiyon ve saçılımı teknikleri ile yüzey yapısı tayini. Taramalı elektron mikroskobunun (SEM) yüzey analizlerinde kullanımı. X-ışını fotoelektron spektroskopisinin (XPS) çalışma prensipleri ve uygulama alanları. Taramalı tünelleme mikroskobuna giriş (STM) Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) çalışma prensibi. Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) uygulama alanları. Infrared spektroskobisinin yüzey analizlerinde kullanımı. Raman spektroskobisi ve uygulamaları. | ||||||
| Ders İçeriği (İngilizce) | : | Introduction to surface analysis Vacuum technology in surface science Auger electron spectroscopy- introduction and principles. Secondary Ion mass spectroscopy-surface mass spectroscopy X-ray absorption and scattering techniques Scanning electron microscopy (SEM) in surface science X-ray photoelectron spectroscopy principles and application areas. Introduction to scanning tunneling microscope (STM) Principles of Atomic force microscope (AFM). Applications of Atomic force microcope Applications of infrared spectroscopy in surface analysis Raman spectroscopy and its applications. | ||||||
| Ders Saati | : |
|
||||||
| Ders Kredisi | : | 3 |